電子產品用高純石英砂SJ/T 3228.2-2016——第2部分：分析方法通則

中華人民共和國電子行業標準《電子產品用高純石英砂》第2部分——分析方法通則

標準編號：SJ/T 3228.2-2016

標準狀態：現行有效

本標準由中華人民共和國工業和信息化部2016年1月15日發布，2016年6月1是開始實施。

前言

SJ/T 3228系列標準計劃分下列部分：

——SJ/T 3228.1 電子產品用高純石英砂 第1部分技術條件；

——SJ/T 3228.2 電子產品用高純石英砂 第2部分分析方法通則；

——SJ/T 3228.3 電子產品用高純石英砂 第3部分灼燒失量的測定；

——SJ/T 3228.4 電子產品用高純石英砂 第4部分二氧化硅的測定；

——SJ/T 3228.5 電子產品用高純石英砂 第5部分鐵的測定；

——SJ/T 3228.6 電子產品用高純石英砂 第6部分銅的測定；

——SJ/T 3228.7 電子產品用高純石英砂 第7部分鉻的測定；

——SJ/T 3228.8 電子產品用高純石英砂 第8部分鋁的測定；

——SJ/T 3228.10 電子產品用高純石英砂 第10部分鉛的測定。

本部分為第2部分。

本部分按照GB/T1.1-2009給出的規則起草。

本部分代替SJ/T 3228.2-1989。

本部分與SJ/T 3228.2-1989相比，主要技術內容變化如下：

——增加了引用文件；

——修改了分析天平稱量精度、試劑配制及分析用水和試劑的純度要求；

——修改了天平砝碼定期校正要求。

請注意本文件的某些內容可能涉及專利。本文件的發布機構不承擔識別這些專利的責任。

本部分由全國半導體設備和材料標準化技術委員會（SAC/TC203）提出并歸口。

本部分起草單位：工業和信息化部電子工業標準化研究院、國家硅材料深加工產品質量監督檢驗中心、東?？h產品質量監督檢驗所。

本部分主要起草人：李運強、許振午、程尚栩、欒振祥、薄雷明、李建德、馮亞彬、管琪。

本部分所代替標準的歷次版本發布情況為：

——SJ/T 3228.2-1989。

1 范圍

本部分規定了高純石英砂分析方法的一般要求。

本部分適用于高純石英砂的分析方法。

2 規范性引用文件

下列文件對于本文件的應用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，儀注日期的版本適用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本文件。

GB/T 6682 分析實驗室用水規格和試驗方法

3 要求

3.1 所使用的分析天平稱量準確精度應達到0.1mg。

3.2 試劑配制及分析所用的水應為超純水，電阻事應≥l8MQ·cm，同時符合GB/T 6682中實驗室用一級水的要求。

3.3 分析所用的試劑除指明外均指MOS級或電子級。

3.4 分析所用的溶液除指明溶劑外，均指水溶液。

3.5 方法中所謂“恒重”系指連續二次稱重的差不超過±0.2g。

3.6 凡標準溶液的濃度，應保留四位有效數字。

天平及容量器皿等應定期校準，并在校驗期內。